RASTERELEKTRONENMIKROSKOP - Γερμανικά-Αγγλικά μετάφραση

Πώς θα θέλατε να χρησιμοποιείτε το PONS.com;

Είστε ήδη συνδρομητής του PONS Pur;

PONS με διαφημίσεις

Πηγαίνετε στο PONS.com όπως πάντα με παρακολούθηση διαφημίσεων και διαφημίσεις

Μπορείτε να βρείτε λεπτομερέστερες πληροφορίες σχετικά με την παρακολούθηση διαφημίσεων στα Προστασία δεδομένων και Ρυθμίσεις απορρήτου.

PONS Pur

χωρίς διαφημίσεις από τρίτους προμηθευτές

χωρίς παρακολούθηση διαφημίσεων

Γίνετε συνδρομητής τώρα

Εάν έχετε ήδη λογαριασμό χρήστη στο PONS.com μπορείτε να γίνετε συνδρομητής στο PONS Pur .

We process your data to deliver content or advertisements and measure the delivery of such content or advertisements to extract insights about our website. We share this information with our partners on the basis of consent and legitimate interest. You may exercise your right to consent or object to a legitimate interest, based on a specific purpose below or at a partner level in the link under each purpose. These choices will be signaled to our vendors participating in the Transparency and Consent Framework.

Cookies, device or similar online identifiers (e.g. login-based identifiers, randomly assigned identifiers, network based identifiers) together with other information (e.g. browser type and information, language, screen size, supported technologies etc.) can be stored or read on your device to recognise it each time it connects to an app or to a website, for one or several of the purposes presented here.

Advertising and content can be personalised based on your profile. Your activity on this service can be used to build or improve a profile about you for personalised advertising and content. Advertising and content performance can be measured. Reports can be generated based on your activity and those of others. Your activity on this service can help develop and improve products and services.

γερμανικά

αγγλικά

Ras·ter(·elek·tro·nen)·mi·kro·skop ΟΥΣ ουδ

Raster(elektronen)mikroskop: scanning electron microscope

Raster(elektronen)mikroskop: SEM

αγγλικά

γερμανικά

scanning electron microscope: Rasterelektronenmikroskop ουδ <-s, -e>

scanning electron microscope (SEM): Rasterelektronenmikroskop (REM)

PONS OpenDict

Θέλετε να προσθέσετε μια λέξη, φράση ή μετάφραση?

Στείλτε μας ένα νέο λήμμα για το PONS OpenDict. Οι προτάσεις ελέγχονται από τη συντακτική ομάδα του PONS και στη συνέχεια περιλαμβάνονται στο PONS OpenDict.

Προσθήκη λήμματος

Παραδείγματα από το διαδίκτυο (μη ελεγχόμενα από το λεξικογραφικό τμήμα)

[...]

Bei einem Rasterelektronenmikroskop wird ein Elektronenstrahl über die zu untersuchende Probenoberfläche geführt ( Rasterung ).

[...]

chemie.uni-paderborn.de

[...]

In a scanning electron microscope an electron beam is scanned over the surface of a sample ( scanning ).

[...]

chemie.uni-paderborn.de

[...]

Das XL 40 von Philips ist ein Rasterelektronenmikroskop mit extra großer Probenkammer.

[...]

www.mv.uni-kl.de

[...]

The XL 40 manufactured by Philips is a scanning electron microscope with an extra large sample chamber.

[...]

www.mv.uni-kl.de

[...]

Für die Analyse von prozessierten Schichten und Strukturen stehen neben Lichtmikroskopen auch ein Rasterelektronenmikroskop (JEOL) und ein Rasterkraftmikroskop (DME) zur Verfügung.

www.igm.uni-stuttgart.de

[...]

There are several optical microscopes available to analyse the processed layers and structures, as well as a scanning electron microscope (JEOL) and an atomic force microscope (DME).

www.igm.uni-stuttgart.de

[...]

Seit 15 Jahren werden den meisten Erstbeschreibungen Fotos des Samens beigefügt, die unter dem Rasterelektronenmikroskop gemacht wurden - oft als REM-Aufnahmen abgekürzt.

[...]

www.internoto.de

[...]

For 15 years most first descriptions have included photos of the seed, which were made under the scanning electron microscope - often abbreviated to SEM ( REM in German ).

[...]

www.internoto.de

[...]

Focused Ion Beam mit Rasterelektronenmikroskop und angeschlossenem EDX (Zeiss Neon 40) Sputteranlage zur Probenvorbereitung:

chemie.uni-paderborn.de

[...]

Focused Ion Beam with Scanning Electron Microscope and EDX (Zeiss Neon 40) Sputtercoating sample preparation:

chemie.uni-paderborn.de